名前
AUROS Technology
説明
2009年に設立されたAUROS Technology, Inc.は、半導体の全工程における計測装置の製造を専門としています。
2011年には、国内で初めてオーバーレイ計測装置の量産化に成功し、グローバル半導体市場の主要顧客へ技術を供給してきました。
AUROS Technology, Inc.は、専門評価機関による技術評価で優秀等級を取得し、素材・部品・装置分野における「隠れたチャンピオン」企業として選定されるなど、計測装置分野で高く評価されています。
私たちは高度な技術力を基盤に、オーバーレイ計測の性能をさらに向上させるとともに、新たな計測・検査装置の開発に取り組み、お客様に最適なソリューションを提供することを目指しています。
AUROS Technologyの核心的価値である創造性と挑戦精神を基盤に、現在グローバル企業が支配する市場を切り拓き、世界中で認められる製品開発を通じて国内外の半導体産業に大きく貢献してまいります。
Webサイト
製品カテゴリー (50)
ウェーハ：基板測定/トポロジ/ナノトポグラフィ/平坦度測定/結晶方位 / Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation, パッケージ検査/リードスキャナー / Package Inspection; Lead Scanners, パーテクルモニター/分析器－気体、液体 / Particle Monitors; Analyzers - Airborne or Liquid, 欠陥/パーテクル/バンプ/汚染検出、評価、検査 / Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection, 膜厚：厚さ/均一性測定/エリプソメーター / Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer, 表面測定 / Overlay Measurement
電話番号
82-31-8046-8956
住所
Hwaseong-si, Gyeonggi-do